JD-404-80L 恒溫恒濕試驗箱是高低溫或者濕熱環(huán)境下，檢驗電子產(chǎn)品，材料、電工、儀器儀表的各種性能指標(biāo)。電子產(chǎn)品為什么要做恒溫恒濕環(huán)境試驗? 隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電子電工產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確的選擇產(chǎn)品的環(huán)境保護措施，才能保證產(chǎn)品在儲存運輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。性能指標(biāo)符合GB5170.2.3.5.6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求。 滿足標(biāo)準(zhǔn)： GB-2423.1-89（IEC68-2-1） 試驗A：低溫試驗方法。 GB-2423.2-89（IEC68-2-2） 試驗B：高溫試驗方法。 GJB360.8-87（MIL-STD-202F） 高溫壽命試驗。 GBJ150.3(MIL-STD-810D) 高溫試驗方法。 GJB150.4(MIL-STD-810D) 低溫試驗方法。1.溫度范圍:-40℃～150℃ 2.溫度波動度:≤0.5℃ 3.溫度均勻度:≤0.1℃. 4.溫度極限:0℃ 5.升溫時間:由常溫升至150℃約40分鐘（非線性） 6.降溫時間:由常溫降至-40℃約65分鐘（非線性） 7.濕度范圍:20%～95%R.H. 8.濕度波動度:±1%R.H 9.濕度均勻度:±2.0%R.H.